A New Similarity Space Tailored for Supervised Deep Metric LearningÁrea de aplicação: Geral (category), Tipo de dado: Dados genéricos (category), Tópico de pesquisa: Aprendizagem métrica (category)
A New Similarity Space Tailored for Supervised Deep Metric LearningÁrea de aplicação: Geral (category), Publicado em Revista (category), Tipo de dado: Dados genéricos (category), Tópico de pesquisa: Aprendizagem métrica (category)
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