A New Similarity Space Tailored for Supervised Deep Metric LearningÁrea de aplicação: Geral, Tipo de dado: Dados genéricos, Tópico de pesquisa: Aprendizagem métrica
A New Similarity Space Tailored for Supervised Deep Metric LearningÁrea de aplicação: Geral, Publicado em Revista, Tipo de dado: Dados genéricos, Tópico de pesquisa: Aprendizagem métrica
